摩尔定律既已失效，我们该用什么方法衡量半导体进步？

专家们希望找到一种新的指标，消除由节点倒计时带来的“末世”氛围。他们认为，最重要的是要保证新指标不再具有自然终点。换句话说，数字应该随着进步而上升、而非不断下降。另外，新指标还必须简单、准确，而且与半导体技术改进的核心目标（功能更强大的计算系统）密切相关。

学者们也都坦言，这个领域的研究对于青年才俊们确实缺乏吸引力。理由也很简单：如果某个领域在可预见的未来十年内都不太可能取得突破，那么谁会愿意花四到六年接受相关专业教育？为了扭转这一不利局面，专家们必须拿出更多创新解决方案，推动计算技术重归发展快车道。

从这个角度来看，IRDS提出的GMT指标显然还不够完善。他们想要的理想指标不仅能够描述处理器的发展，同时也应该可以衡量计算机整体系统中其他对性能具有重要影响的关键因素。虽然看起来似乎野心过大，但其中也确有可能蕴藏着指导计算技术未来发展的基本思路。

拆开英特尔Stratix 10现场可编程门阵列的封装，我们能够看到的绝不只有FPGA处理器。在封装之内，处理器芯片周边包围着一系列“小芯片”，包括两款高带宽DRAM芯片。处理器则通过一小片以高密度互连阵列蚀刻的芯片与内存相对接。

一台计算机的基础，就是逻辑、内存以及二者之间的连接。因此，为了拿出能够服众的新指标，学者们最终选择了DL, DM与DC 三项参数，共同构成了LMC指标。

根据LMC指标的发起者们所言，在这个以数据为中心的新时代下，DL, DM与DC 的提升将共同为计算系统的整体速度与能源效率做出贡献。三者能够体现历史数据，展示逻辑、内存与连接性增长之间的关联性，也足以反映过去几十年间这三项固有指标的均衡增长。更令人惊讶的是，这种均衡关系适用于不同复杂程度的各类计算系统——无论是移动设备、台式机还是世界上最强大的超级计算机，都可以借此加以描述。小组成员们表示，这种均衡增长也将为计算系统勾勒出清晰的未来愿景。

LMC方法

LMC是一种替代性的芯片衡量指标，主要通过逻辑密度(DL)、主存储器密度(DM)以及二者之间的互连密度(DC)体现一套系统的技术价值。

在LMC指标当中，DL是指逻辑晶体管的密度，以每平方米的单元数量表示；DM为每平方毫米的主存储器密度，以每平方毫米内存单元数量表示；DC则为逻辑与主存储器之间的连接，以每平方毫米的互连数表示。对于多层设备或者3D芯片堆叠类方案，则衡量标准可以转换为体积——而不单纯是平方毫米。

（编辑：PHP编程网 - 襄阳站长网）

【声明】本站内容均来自网络，其相关言论仅代表作者个人观点，不代表本站立场。若无意侵犯到您的权利，请及时与联系站长删除相关内容!